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全功能可配置NANDFlash芯片测试设备

全功能可配置NANDFlash芯片测试设备

商城价： 面议

市场价：￥0

专利申请号：

专利分类： 通信电子航空类   电路元器件

专利类型：发明专利

交易方式：第三方委托交易

人气值 290

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    专利详情 最终专利状态以国家知识产权局当前状态为准

    该成果研发了一种全功能、可配置的 NAND Flash 芯片测试设备，专 为测试开发，采用完全自主知识产权的 NAND Flash 控制器。支持基本读 写命令和高级命令，可根据 NAND Flash Datasheet 自定义测试命令，并 且支持覆盖写、编程干扰、保留时间、Read Retry 等特殊测试。同时支持 3D Nand Flash，支持 SLC，MLC，TLC，支持同步和异步 Flash，支持 TSOP48，BGA63，BGA100，BGA132，BGA152 封装产品支持 Micron、 Samsung、Toshiba 等主流厂商的常规 Nand Flash 产品。现有芯片厂商对于芯片测试工具审查严格，实行技术封锁。同时由 于 NAND Flash 芯片型号众多，市场缺乏一个全功能可配置的测试工具。 这些问题严重阻碍 NAND Flash 测试相关行业的发展并影响了国内移动 智能终端以及 SSD 企业的进步。构建全功能、可配置的 NAND Flash 芯 片测试设备将具有十分巨大的经济效益与社会效益。

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